휴대용 XRF 금속 성분 분석기

SciAps X-200 휴대용 XRF 분석기고성능과 가격 경쟁력을 동시에 갖춘 최고의 밸런스SciAps X-200은 고급 성능과 합리적인 가격을 동시에 만족시키는 모델로, 다른 브랜드의 고급형 분석기보다 뛰어난 속도와 분석 성능을 제공합니다. 고성능 SDD(Silicon Drift Detector)와 최적화된 X-ray 튜브 및 검출기가 결합되어 있습니다.X-200은 특히 스크랩 분류와 비파괴 검사(NDT) 분야에서 빠른 분석 속도와 경량·컴팩트한 디자인으로 최고의 선택지로 부상하고 있습니다. 모든 금속군, 특히 알루미늄 합금에서 빠른 분석을 제공합니다. 또한 환경, 탐사, 광업 등 다양한 지질학적 분야에도 적합하며, RoHS, 귀금속, 자동차 촉매, 코팅, 사용자가 직접 교정 모델을 생성하는 Empirical App 등 다양한 응용 프로그램을 지원합니다.주요 특징X-ray Tube: 40 kV Rh anode (합금용), 50 kV Au anode (지질, 토양, RoHS 등)Detector: 20 mm² Silicon Drift Detector, <140 eV resolution FWHM at 5.95 Mn K-alpha line카메라: 고해상도 샘플 뷰어 + 매크로 카메라 (샘플 기록 및 2D/3D 바코드 스캔용)무게: 약 1.4 kg (3.1 lbs, 배터리 포함)크기: 238 mm × 283 mm × 84 mm배터리: 내장형 Li-ion 배터리, 내부 또는 외부 충전 가능, 핫스왑 지원 (최대 60초 이내 교체 가능)디스플레이: 3.5-inch color capacitive touchscreen통신: Wi-Fi, Bluetooth, USB, GPS 지원, 클라우드 데이터 연동 가능보안: 사용자 및 관리자 모드 비밀번호 보호인증: CE, RoHS, USFDA 등록, Canada RED 법규 준수Standard Element Package (분석 가능 원소 패키지)ApplicationBeam 1 (40 kV)Beam 2 (10 kV)Beam 3 (50 kV)MiningTi, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, UMg, Al, Si, P, S, K, CaAg, Sn, Sb, BaSoil (Geo-Env)Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, BiMg, Al, Si, P, SAg, Cd, Sn, Sb, BaAlloyTi, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, SbMg, Al, Si, P, SN/APrecious MetalsTi, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, SbN/AN/ARoHS 및 유해물질 분석 (Five-Beam Analysis)Application50 kV40 kV30 kV / 15 kVRoHS (Polymer)Cd, Sn, Sb, Ba, AgBr, Hg, Pb, As, Cu, Ni, Se, Tl, ZnCr, Cl (Halogen-free 판별)RoHS (Alloy)Cd, Sn, Sb, Ba, AgBr, Hg, Pb, As, Cu, Ni, Se, Tl, Zn, Cr?주요 사양 (Key Specifications)Processor: 1.2 GHz ARM Cortex-A53 quad-core, 64/32-bitRAM: 2 GB LPDDR3Storage: 16 GB eMMCDisplay: 3.5-inch (89 mm) color capacitive touchscreenPulse Processor: 14-bit ADC, 80 MSPS, 8K channel MCA, FPGA-based digital filtering (50 ns ? 24 μs peaking time)Calibration: Fundamental Parameters / Compton Normalization (EPA Method 6200) / Empirical CalibrationCalibration Check: 내부 316 스테인리스 셔터 기반 자동 교정 및 에너지 스케일 검증X-ray Filtering: 6-Position Filter WheelOperating Temperature: 10°F ~ 130°F (-12°C ~ 54°C), 25% duty cyclePower: AC 전원, 내부/외부 충전, Li-ion 배터리 핫스왑 지원Comms: Wi-Fi, Bluetooth, USB, GPS, SciAps Profile Builder PC 소프트웨어 및 클라우드 연동 가능SciAps X-200은 스크랩, 합금, 지질, 환경 분석, RoHS 등 다양한 응용 분야에서 고성능과 빠른 분석 속도를 제공하는 전문가용 XRF 장비입니다.문의 및 견적 요청은 언제든지 환영합니다.